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株式会社ロイビジョン

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2009年 出展 展示会



DMS設計・製造ソリューション展

期日 2009年6月24日(水)〜26日(金) 10:00〜18:00
会場 東京ビッグサイト
  http://www.dms-tokyo.jp/
    弊社ブース 三次元測定ゾーン 21−17
出展品
   フランス:KREON(クレオン社)の高精度3Dスキャナー
   
Aquilon (アキュロン) 3Dスキャナー
   
 機器精度: 5 μm
     タッチプローブTP-20を標準装備
     最大収集点数 1,000,000点/秒
   (500ラインx 2000点/秒)
            高速、高精度スキャニングを実現
            光輝面のパウダーレススキャニング

取付測定機:
CNC三次元座標測定機 (レニショー電動プローブPH-10付)
手動三次元座標測定機 ( レニショー手動割出ヘッド MIH付 )
   Zephyr (ゼファー) 3Dスキャナー
  Zephyr (ゼファー) : KZ-25、KZ-50、KZ-100
取付測定機: CNCあるいは手動三次元座標測定機、ポータブル・アームベース






2008年 出展 展示会

光ナノテクフェア 2008

期日 2008年6月11日(水)〜13日(金)
会場 パシフィコ横浜
  http://www.j-oma.jp/

出展機種
超精密三次元測定機 Altera Nano (ポスター展示)
小型マルチセンサー三次元測定機 Primus にマイクロポイントプローブを装備して、その機能と機構をご覧いただけます。

測定範囲: [X] 400 x [Y] 400 x [Z] 100 mm
精      度: E1=±(0.20+L/500)μm
E2=±(0.28+L/400)μm
マルチセンサー仕様 :
CCDカメラ(50倍レンズ、視野範囲 0.122x0.091mm)
ホワイトライトセンサー(Z軸方向分解能 最小10nm)
マイクロポイントプローブ : ナノプローブ(Bosch製)
                             ホワイトポイントセンサー(360度回転制御)
                 最小径 35μm (微小穴計測が可能)
                 距離分解能 : 1nm
                    サンプリングレート : 10KHZ





第19回マイクロマシン/MEMS展

期日: 2008年7月30日(水)〜8月1日(金) 
会場: 東京ビッグサイト西1・2ホール
  http://www.micromachine.jp/

出展機種
超精密三次元測定機 Altera Nano (ポスター展示)
小型マルチセンサー三次元測定機 Primus にマイクロポイントプローブを装備して、その機能と機構をご覧いただけます。

測定範囲: [X] 400 x [Y] 400 x [Z] 100 mm
精      度: E1=±(0.20+L/500)μm
E2=±(0.28+L/400)μm
マルチセンサー仕様 :
CCDカメラ(50倍レンズ、視野範囲 0.122x0.091mm)
ホワイトライトセンサー(Z軸方向分解能 最小10nm)
マイクロポイントプローブ : ナノプローブ(Bosch製)
                             ホワイトポイントセンサー(360度回転制御)
                 最小径 35μm (微小穴計測が可能)
                 距離分解能 : 1nm
                    サンプリングレート : 10KHZ


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